Espectrómetro de emisión óptica W5 CMOS para análisis de metales
Especificación Basado en CMOS, descarga de chispas, detección de metalesLímites de detección ultrabajosAlta integración,
Descripción
Información básica.
N º de Modelo. | W5 |
Elemento dispersivo | Espectrómetro de rejilla |
Certificación | ISO9001, CE |
Personalizado | Personalizado |
Matriz de análisis | Fe, Al, Cu, Zn, Ni, Mg, Pb, etc. |
Longitud focal de rejilla | 401mm |
Artículo | Espectrómetro de emisión óptica |
Tiempo de análisis | 25 |
Brecha analítica | 4mm |
Corriente de descarga | Máximo 400A |
Tipo de fuente de luz | Digital |
Poder de trabajo | CA 220 V 50/60 Hz 1200 W. |
Frecuencia de descarga | 100-1000Hz |
Temperatura de trabajo | 10~30 grados |
Tipo de electrodo | Electrodo de pulverización de tungsteno |
Rango de onda | 140~680nm |
Detector | Matriz CMOS de alto rendimiento |
N º de Modelo. | W5 |
Paquete de transporte | Paquete de madera |
Marca comercial | wuxi jinyibo |
Origen | Jiangsu Wuxi |
Código hs | 9027300000 |
Capacidad de producción | 30 juegos/mes |
Descripción del Producto
Especificación Basado en CMOS, descarga de chispas, detección de metales Límites de detección ultrabajos Alta integración, confiabilidad, estabilidad Ahorro de energía 50%, ahorro de material Reducción de costos operativos Tamaño pequeño, peso liviano, fácil de mover e instalar Actualización de múltiples sustratos fácil, sin cambios para aumentar el hardware Resumen W5 El espectrómetro de emisión óptica incorpora la tecnología avanzada de Europa. Es el Arc/Spark-OES de cuarta generación con alto rendimiento y bajo costo operativo para análisis de metales y es lo último en investigación y desarrollo de equipos de detección. Se ha mejorado el diseño óptico general y se han utilizado mejoras en la tecnología CMOS para mejorar aún más el rendimiento del W5 y al mismo tiempo conservar los principales beneficios de las unidades anteriores. El espectrómetro CMOS no solo contiene las características de espectro completo del espectrómetro CCD sino también el límite de detección extremadamente bajo para elementos no metálicos como C, S, P, B, As, N, etc. El funcionamiento es simple y fácil de aprender. El resultado de la prueba es estable y preciso. Es una buena opción de todos los metales comunes para el control de calidad de productos entrantes y salientes. Aplicación El espectrómetro de emisión óptica W5 (spark OES) se utiliza para aplicaciones en análisis elemental de metales, análisis de elementos traza para ciencia e industria como metalurgia, fundición, ingeniería mecánica, Investigación científica, inspección de productos, automóvil, ingeniería petroquímica, construcción naval, electricidad, aeroespacial, energía nuclear, fundición, procesamiento y reciclaje de metales metálicos y no ferrosos. Incluye un rango completo de análisis de elementos, pero al mismo tiempo la cantidad de análisis de elementos se puede personalizar. Matrices de detección: Hierro (Fe) y sus aleaciones (aleación de acero, hierro fundido, Fe-baja aleación, acero Fe-Cr, Fe-Cast hierro, hierro fundido Fe-Cr, acero Fe-Mn, acero Fe-herramienta, etc.)Aluminio (Al) y sus aleaciones (aleación Al-Si, aleación Al-Zn, aleación Al-Cu, aleación Al-Mg, aleación Puro- Aleación de Al, etc.)Cobre (Cu) y sus aleaciones (latón, cobre-níquel-Zn, bronce de aluminio, bronce de estaño-plomo, cobre rojo, bronce Be, bronce Si, etc.)Níquel (Ni) y sus aleaciones (Ni puro , Monel metal, Hadtelloy Alloy, Incoloy, Inconel, Nimonic, etc.)Cobalto(Co) y sus aleaciones (Coorientación, aleación baja en Co, Stellite 6,25,31, Stellite 8,WI 52, Stellite 188, F)Magnesio( Mg) y sus aleaciones (aleaciones de Mg puro, Mg/Al/Mn/Zn)Titanio(Ti) y sus aleacionesZinc(Zn) y sus aleacionesPlomo(Pb) y sus aleacionesEstaño(Sn) y sus aleacionesArgentum(Ag) y sus aleacionesPequeños muestra, muestra de tamaño especial y detección de cablesParámetrosArtículo | Índice |
Sistema óptico | |
Estructura óptica | El sistema óptico de vacío total de construcción Paschen Runge |
Temperatura ambiente | 35ºC±0,5ºC |
Rango de onda | 170-580nm |
Longitud focal | 400 mm |
Línea de rejilla | 3600m1/mm |
Dispersión de líneas espectrales de primer orden rara | 1,2 nm/mm |
Detector | Matriz CMOS lineal de alto rendimiento y múltiples bloques |
Relación de resolución promedio | 22:00/píxel |
mesa de excitación | |
Gas | Argón corriendo (99,999%) |
Caudal de argón | Cuando está excitado: 3-5L/min Tiempo en espera: no hay necesidad de tráfico en espera |
Electrodo | Tecnología de electrodos de tungsteno |
Purga | Función de purga automática |
Constituir | Diseño de autocompensación de deformación térmica. |
Analizar la brecha | Etapa de muestra: 3,4 mm |
Luz de excitación | |
Tipo | HEPS |
Frecuencia | 100-1000HZ |
Corriente de descarga | 1-400A |
Tecnología especial | Optimización del diseño de parámetros de descarga. |
Precombustión | Tecnología de precombustión de alta energía |
Procesador | ARM de alta gama, adquisición y procesamiento de sincronización de datos de alta velocidad |
Sistema de recopilación de datos | |
Interfaz | Transmisión de datos Ethernet basada en DM9000A |
Ingresar | 220 VCA 50/60 Hz |
Los requisitos de la energía y el medio ambiente. | |
Fuerza | Máximo: 700 W en espera: 40 W |
Temperatura de trabajo | 10-35ºC(temperatura ≥5°C) |
Humedad de trabajo | 20-85% |
Embalaje y envío
Anterior: Microscopio digital USB con pantalla LCD de 7 pulgadas
Próximo: Analizador de metales/espectrómetro de emisión óptica CMOS
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