Polvo de mesa X

Overview

Información básica.

N º de Modelo.	DW-XRD-Y3000
Personalizado	No personalizado
Paquete de transporte	Paquete estándar
Marca comercial	Drawell
Origen	Porcelana
Capacidad de producción	200 piezas por año

Descripción del Producto

Instrumento de difracción de rayos X modelo DW-XRD-Y3000

Descripción del Producto

El difractómetro de la serie Y3000 está diseñado para la investigación de materiales y el análisis de productos industriales. Es la combinación perfecta de

Análisis convencional con productos de medición para fines especiales.
•La combinación perfecta de sistemas de hardware y software satisface las necesidades de académicos e investigadores en diferentes áreas de aplicación.

El sistema de medición del ángulo de difracción de alta precisión obtiene resultados más precisos
La alta estabilidad del sistema de control del generador de rayos X consigue una precisión de repetibilidad más estable
Operación programable, diseño de estructura integrada, fácil operación, aspecto elegante.

La difracción de rayos X (DRX) es un instrumento de prueba versátil para revelar la estructura cristalina y la información química:

Muestras desconocidas en una variedad de identificación de fases.
Muestras mixtas con análisis de fase cuantitativo conocido.
Análisis de estructura cristalina.
La estructura cristalina cambia en condiciones no convencionales (condiciones de alta temperatura, baja temperatura)

•Análisis de la película superficial del material.
•Análisis de textura y tensión de materiales metálicos.
Parámetro de técnica


Potencia nominal	3kW
voltaje del tubo	10-60kV
Corriente del tubo	5-80mA
tubo de rayos x	tubo de vidrio, tubo de cerámica, tubo de cerámica ondulado: Cu, Fe, Co, Cr, Mo, etc., potencia 2kW
Tamaño de enfoque	1 x 10 mm o 0,4 x 14 mm o 2 x 12 mm
Estabilidad	≤0,01%
Estructura del goniómetro	Horizontal ( θ-2 θ)
Radio de difracción	185mm
Rango de escaneo	0-164
Velocidad de escaneo	0,0012° - 70° mín.
Máx. velocidad de giro	100°/minuto
Escaneando moda	enlace θ-2θ, acción única θ,2θ; escaneo continuo o por pasos
Precisión repetible del ángulo	1/1000°
Ángulo de paso mínimo	1/1000°
Detector	contadores proporcionales (PC) o contadores de centelleo (SC)
Tasa de conteo de linealidad	5 x 105CPS (con la función de compensación de conteo de abandonos)
Relación de resolución de energía	≤25% (PC),≤50% (SC)
contando la moda	coeficiente diferencial o integral, PHA automáticamente, tiempo muerto regular
Medida de estabilidad del sistema.	≤0,01%
Dosis de rayos dispersos	≤1 μ Sv/h (sin dispositivo de protección radiológica)
Estabilidad integrativa del instrumento.	≤0,5%
Tamaño de la figura	1100x850x1750mm

Fotos detalladas

$Benchtop Powder X-ray Diffraction Xrd Instrument Lab Instrument Xrd Analyzer Spectrometer$

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